Tania Al Moussi, Sombel Diaham et Patrice Raynaud ont obtenu le Best Paper Award lors de la conférence internationale IEEE CEIDP 2024 aux Etats-Unis pour leur article intitulé :
“Compositional Properties and High Field Electrical Conduction of PECVD Silicon Nitride Thin Films”, T. Al Moussi, C. O’Dalaigh, P. Raynaud, P. Lambkin, R. Lakshmanan, B. Chen and S. Diaham, IEEE Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena (CEIDP), 06-09 October, Auburn, AL, USA, 2024.
Ce prix récompense l’excellent travail scientifique effectué dans le cadre de la thèse de Tania Al Moussi sur l’étude des propriétés électriques et structurales de couches minces de nitrure de silicium et leur vieillissement appliquées à la montée en tension de composants électroniques intégrés à isolation galvanique, en collaboration avec l’entreprise Analog Devices.
Liens externes
Article dans le magazine IEEE DEIS Electrical Insulation Magazine (Mars/Avril 2025)
