Mise en parallèle de 24 doigts pour augmentation du calibre en courant du JFET diamant Schéma en coupe du transistor, b) vue de dessus au microscope optique, c,d) caractéristiques mesurées Id=f(Vds,Vgs) et Id,Ig=f(Vgs). (suite…)
Six doctorant-e-s du LAPLACE à l’honneur ! Sur les onze prix des meilleures présentations effectuées lors du congrès de l’école doctorale GEET du 6 Juin 2024, six présentations émanant de doctorantes et doctorants du LAPLACE ont été récompensées. Félicitations...